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所属分类: | 导热分析仪(LFA/HFM) |
更新时间: | 2020-05-08 |
无须更换检测器或炉体, LFA467 HyperFlash在同一台仪器上可实现 -100℃ 到 500℃ 的宽广温度范围。加上目前市场上种类zui丰富的可选配件,开创了热物性测量的新天地。
一、产品简介
宽广的温度范围,从 -100℃ 到 500℃
无须更换检测器或炉体, LFA467 HyperFlash在同一台仪器上可实现 -100℃ 到 500℃ 的宽广温度范围。加上目前市场上种类zui丰富的可选配件,开创了热物性测量的新天地。
进样器附有 16 个样品位,样品容纳量为原来的 4 倍
LFA 467 HyperFlash 的一大优势是可以在整个温度范围内连续测量 16 个样品,大大缩短了测量时间。液氮补给系统可以实现对检测器与炉体的自动补充液氮,保证仪器全天候不间断测量。
ZoomOptics 得到的测量结果更准确,减少测量误差
技术的 ZoomOptics 优化了检测器的检测范围,从而消除了孔径光阑的影响。显著增加了测量结果的精度。
*的采样频率(2MHz),特别适合于薄膜样品
薄膜样品及高导热材料需要快速的数据采集速率,来精确地记录样品上表面的升温过程。LFA 467 HyperFlash 可以提供 2MHz 的数据采集速率,这是 LFA 系统*的。
二、技术参数
● 温度范围:-100°C ... 500°C,单一炉体
● 非接触式测量,IR 检测器检测样品上表面升温过程
● 数据采集速率:高达 2MHz(包括半升温信号检测,及 pulse mapping 技术)-- 对于高导热及薄膜样品,采样时间(约为半升温时间 10 倍)可低至 1ms,样品厚度bao可至 0.01 mm 以下(取决于具体的导热系数)
● 热扩散系数测量范围:0.01 mm2/s ... 2000 mm2/s
● 导热系数测量范围:< 0.1 W/(mK) ... 4000 W/(mK)
● 样品尺寸:
- 直径 6 mm ... 25.4 mm(包括方形样品)
- 厚度 0.01 mm ... 6 mm(样品的厚度要求取决于不同样品的导热性能)
● 16 个样品位的自动进样器
● 20 多种支架类型
● 丰富的测量模式,适应各种类型的样品。如各向异性材料,多层模式分析,薄膜,纤维,液体,膏状物,粉末,熔融金属,压力下的测试,等等。
● Zoom Optics 优化检测器的检测范围(专li技术)
● 专li保护的 pulse mapping 技术(US 7038209, US 20040079886, DE 10242741 – approximation of the pulse),用于脉冲宽度修正,可以提高比热值的测量精度
● 气氛:惰性、氧化性、静态/动态、负压
● 遵从如下标准: ASTM E1461, ASTM E2585, DIN EN 821-2, DIN 30905, ISO 22007-4, ISO 18755, ISO 13826; DIN EN 1159-2, 等.
三、ZoomOptics 获取更准确的测量结果,减小测量误差
对于传统的 LFA 系统设计,检测器所覆盖的检测面积通常被调整为适合样品的大尺寸(25.4mm)。对于直径较小的样品,通常在样品之上加上遮光片或遮罩,以尽可能地遮蔽外围区域。但由于任何物体都会发射红外辐射,遮光片或遮罩材料也不例外,由此得到的检测器信号不可避免地会受到影响。该影响的程度大小与样品与遮罩材料的热扩散系数的差异有关。由此导致对于某些样品,检测器测得的温度上升曲线的尾部可能出现持续上升,或者过早地达到水平状态。不管是哪种情况,都会导致分析得到的半升温时间发生偏移,由此计算得到的热扩散系数产生误差。
使用 LFA467 配备的 ZoomOptics(专li号:DE 10 2012 106 955 B4 2014.04.03)附件,可以更灵活地调整检测器的检测范围,确保检测器仅检测到样品上表面的温度升高过程,无需额外的遮罩,周围环境信号也没有任何影响。预设的检测直径比率为 70%,适合于大多数应用,同时软件允许操作者自由调整该数值,以适应特定的样品尺寸与应用。